OPTO-EDU A63.7004 Microscopio electrónico de barrido de filamento de monocristal SE BSE 360000x 3nm@20KV
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Resolution3nm@20KV
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Magnification360000x
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Electron GunLaB6
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Voltage3-20KV
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DetectorBSE+SE
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Navigation CCDCCD+Cabin Camera
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Place of OriginChina
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Nombre de la marcaCNOEC, OPTO-EDU
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CertificaciónCE, Rohs
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Model NumberA63.7004
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Documento
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Minimum Order Quantity1 pc
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PrecioFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Packaging DetailsCarton Packing, For Export Transportation
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Delivery Time5~20 Days
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Payment TermsT/T, West Union, Paypal
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Supply Ability5000 pcs/ Month
OPTO-EDU A63.7004 Microscopio electrónico de barrido de filamento de monocristal SE BSE 360000x 3nm@20KV
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A63.7004 Microscopios electrónicos de barrido (SEM) de sobremesa, actualizan el cañón de tungsteno a LaB6,incorporan numerosas tecnologías innovadoras, que ofrecen no solo un excelente rendimiento de imagen, sino también portabilidad, que satisfacen una amplia gama de necesidades de aplicación. Tanto a nivel nacional como internacional, la serie ZEM, con su posicionamiento de alta gama y diversos modelos, ha logrado estándares avanzados en claridad de imagen, facilidad de uso e integración del sistema.
A63.7004es reconocido por su alto nivel de integración y opciones de configuración flexibles. La interfaz de usuario es simple, fácil de aprender y operar, lo que permite que incluso los usuarios no expertos se vuelvan competentes rápidamente. El software adjunto admite todo el flujo de trabajo, desde la preparación de la muestra, el ajuste de parámetros, hasta el análisis de imágenes, proporcionando una solución integrada y eficiente.A63.7004ha demostrado sólidas capacidades analíticas en múltiples campos como nuevos materiales, nueva energía, biomedicina y semiconductores, lo que ayuda a los investigadores a explorar los misterios del mundo microscópico. Debido a su excelente relación costo-rendimiento, la serie ZEM se ha convertido en la opción preferida para muchas universidades, instituciones de investigación y empresas que buscan un microscopio electrónico de barrido de sobremesa.
El SEM de sobremesa A63.7004 utiliza una gama más amplia de voltajes de aceleración, pasos de 1Kv y una magnificación máxima de 360.000x con una resolución de hasta 5nm. El modo de desaceleración de sobremesa permite la observación en tiempo real de productos de baja conductividad sin necesidad de rociado de oro. El compartimento de muestra extra grande se puede integrar con una amplia gama de plataformas de expansión in situ para satisfacer diferentes necesidades experimentales y de inspección. |
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Condiciones de trabajo: Requisitos ambientales: tamaño pequeño, toda la máquina se puede colocar en una mesa de laboratorio ordinaria, no es necesario equiparla con una mesa amortiguadora de golpes adicional. 1. Fuente de alimentación 220V, 50Hz, 1KW 2. Temperatura: Temperatura ambiente de funcionamiento: 15°C-30°C 3. Humedad:<80%HR |
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Especificación principal: 1. Voltaje de aceleración: 3-20kV, continuamente ajustable. 2. Tipo de cañón de electrones: filamento de LaB6 de un solo cristal prealineado, vida útil 1500 horas, lente de cañón de dos etapas altamente integrada, no es necesario ajustar manualmente el diafragma de la lente del objetivo. 3. Aumento ≥360000X； 4. Resolución:≤3nm@20KV 5. Detector: detector de electrones secundarios (SE), detector de retrodispersión cuádruple (BSE), 6. Etapa: Etapa motorizada XY de 2 ejes, movimiento 60x55mm； 7. Tamaño máximo de la muestra: 100*78*68.5mm mientras los ejes XY se mueven libremente 8. Cambio de muestra y tiempo de bombeo de alto vacío≤ 90s. 9. Sistema de alto vacío: bomba mecánica, bomba turbomolecular, bomba iónica, el vacío en la cámara de muestra ≥4x10-2Pa, control totalmente automático; 10. Modo de vídeo ≥512x512 píxeles, no es necesario escanear con una ventana pequeña. 11. Modo de escaneo rápido: tiempo de imagen≤3s, 512x512 píxeles. 12. Modo de escaneo lento: tiempo de imagen≤40s, 2048x2048 píxeles. 13. Archivo de imagen: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14. Ajuste automático de brillo y contraste con una sola tecla, enfoque automático, costura de imágenes grandes 15. Función de navegación: navegación con cámara óptica y cámara de cabina. 16. Función de medición de imágenes: distancia, ángulo, etc. 17. Incluye ordenador y software, control con ratón. 18. Opcional: --Filamento de tungsteno (20 piezas/caja) --EDS --Etapa motorizada de 3 ejes XYZ --Etapa motorizada de 3 ejes XYT --Etapa motorizada de 5 ejes XYZRT --Bajo vacío (1-60Pa) --Etapa In-Situ de fábrica original, calentamiento, enfriamiento, estiramiento, etc. --Modo de desaceleración, 1-10KV, puede observar muestras no conductoras o de baja conductividad sin rociado de oro, solo para el modo BSE --Plataforma amortiguadora de golpes (recomendada para A63.7004) 19. Tamaño del microscopio 650*370*642mm, tamaño de la bomba mecánica 340*160*140mm |
| Modelo | A63.7001 | A63.7002 | A63.7003 | A63.7004 | A63.7005 |
| Resolución | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
| Aumento | 150000x | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000x |
| Cañón de electrones | Tungsteno | Tungsteno | Tungsteno | LaB6 | Schotty FEG |
| Voltaje | 5/10/15KV | 3-18KV | 3-20KV | 3-20KV | 1-15KV |
| Detector | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE |
| CCD de navegación | CCD | CCD | CCD+Cámara de cabina | CCD+Cámara de cabina | CCD+Cámara de cabina |
| Tiempo de vacío | 90s | 90s | 30s | 90s | 180s |
| Sistema de vacío | Bomba mecánica Bomba molecular |
Bomba mecánica Bomba molecular |
Bomba mecánica Bomba molecular |
Bomba mecánica Bomba molecular Bomba iónica |
Bomba mecánica Bomba molecular Bomba iónica x2 |
| Vacío | Alto vacío 1x10-1Pa |
Alto vacío 1x10-1Pa |
Alto vacío 1x10-1Pa |
Alto vacío 5x10-4Pa |
Alto vacío 5x10-4Pa |
| Etapa | Etapa XY, 40x30/40x40mm |
Etapa XY, 40x30/40x40mm |
Etapa XY, 60x55mm |
Etapa XY, 60x55mm |
Etapa XY, 60x55mm |
| Precisión de la etapa | - | Precisión de posición 5um | |||
| Distancia de trabajo | 5-35mm | 5-35mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm |
| Máx. muestra | 80x42x40mm | 80x42x40mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm |
| Opcional | Filamento de tungsteno 20 piezas/caja | Filamento Lab6 | Lámpara de emisión de campo | ||
| EDS Oxford AZtecOne con XploreCompact 30 | |||||
| - | Bajo vacío 1-100Pa | Bajo vacío 1-30Pa | |||
| - | Módulo del eje Z | Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm | |||
| - | Módulo del eje T | Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, T ±20° | |||
| - | - | Etapa de 5 ejes, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360° | |||
| - | - | Plataforma amortiguadora de golpes, para etapa de 3 ejes, 5 ejes | |||
| - | Modo de desaceleración 1-10KV para observar muestras no conductoras, solo para BSE | ||||
| - | Etapa In-Situ de fábrica original, calentamiento, enfriamiento, estiramiento, etc. | ||||
| SAI | |||||
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▶ AZtecOne con XploreCompact 30 para TTM
Análisis EDS convencional del sistema El sistema proporciona análisis cualitativos y cuantitativos de diferentes materiales, analizando elementos que van desde B(5) hasta cf (98). Además de los escaneos de puntos individuales de la superficie de la muestra, también están disponibles potentes escaneos de líneas y escaneos espectrales elementales. Combinado con un detector personalizado, el análisis y la generación de informes se pueden realizar en segundos. |
| Área de cristal efectiva | 30mm2 | Resolución (de una foto) | Mn Ka <129eV @50,000cps |
| Rango de detección elemental | B (5) a cf (98) | Tasa máxima de recuento de entrada | >1,000,000 cps |
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