Etapa enorme de la muestra del microscopio óptico de exploración de alta resolución de Digitaces
-
Resaltar
microscopio óptico de la exploración de alta resolución
,etapa enorme de la muestra que explora el microscopio óptico
-
Resolución3nm@30KV(SE); 6nm@30KV(EEB)
-
Aumento450000x
-
Arma de electrónCartucho de filamento de tungsteno precentrado con cátodo calentado de tungsteno
-
Váltidad de aceleración0~30KV
-
Apertura objetivaSistema de vacío exterior ajustable con apertura de molibdeno
-
Etapa de muestraEtapa de cinco ejes
-
Lugar de origenChina
-
Nombre de la marcaOPTO-EDU
-
CertificaciónCE, Rohs
-
Número de modeloA63.7069
-
Documento
-
Cantidad de orden mínima1 pc
-
PrecioFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
Detalles de empaquetadoEmbalaje del cartón, para el transporte de la exportación
-
Tiempo de entrega5 ~ 20 días
-
Condiciones de pagoT/T, West Union, PayPal
-
Capacidad de la fuentemes de 5000 PC
Etapa enorme de la muestra del microscopio óptico de exploración de alta resolución de Digitaces
| A63.7069 Función principal del software | ||
| Regulación de alta presión | Escaneo de línea vertical | Regulación de turnos potenciales |
| Regulación de la corriente del filamento | Ajuste del condensador | Medición a escala múltiple |
| Ajuste astigmático | Ajuste eléctrico a la central | Brillo / contraste automático |
| Ajuste del brillo | Ajuste de la lente | Auto enfoque |
| Ajuste de contraste | Vista previa de la foto | Eliminación automática del astigmatismo |
| Ajuste de la ampliación | Regla activa | Ajuste automático del filamento |
| Modo de exploración de área seleccionado | 4 Ajuste de la velocidad de escaneo | Gestión de los parámetros |
| Modo de escaneo de puntos | Inversión de la lente del objetivo | Captura de imagen, congelación de imagen |
| Escaneo de superficie | Reversión del condensador | Una visión rápida clave |
| Escaneo de líneas horizontales | Ajuste eléctrico de la rotación | |
| El SEM | El A63.7069 A63.7069-L A63.7069-LV |
El A63.7080 A63.7080-L |
El A63.7081 |
| Resolución | 3nm@30KV (SE) Las emisiones de gases de efecto invernadero de los Estados miembros se calcularán en función de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
1.5nm@30KV ((SE) Las emisiones de gases de efecto invernadero se calcularán en función de las emisiones de gases de efecto invernadero. |
1.0nm@30KV ((SE) 3.0nm@1KV ((SE) 2.5nm@30KV ((BSE) |
| Magnificación | 1x~450000x,Magnificación verdadera negativa | 1x~600000x, Magnificación verdadera negativa | 1x~3000000x Magnificación verdadera negativa |
| Arma de electrones | Cartucho de filamento de tungsteno precentrado | Pistola de emisiones de campo Schottky | Pistola de emisiones de campo Schottky |
| Válvula de tensión | Voltado de aceleración 0.2¿Qué quieres decir?30 kV, ajustable de forma continua, paso de ajuste 100V@0-10Kv, 1KV@10-30Kv | ||
| Visión rápida | Función de imagen de vista rápida de una tecla | No incluido | No incluido |
| Sistema de lentes | Lentes con forma cónica electromagnética de tres niveles | Lentes con forma cónica electromagnética de varios niveles | |
| Apertura | 3 Aperturas del objetivo de molibdeno, ajustable fuera del sistema de vacío, no hay necesidad de desmontar el objetivo para cambiar la apertura | ||
| Sistema de vacío | 1 Bomba Turbo Molecular 1 Bomba mecánica Vacío de la sala de muestreo> 2,6 E-3 Pa Las medidas de seguridad se aplican a las armas de fuego. Control de vacío totalmente automático Función de bloqueo al vacío Modelo opcional: A63.7069-LV 1 Bomba Turbo Molecular 2Las bombas mecánicas Vacío de la sala de muestreo> 2,6 E-3 Pa Las medidas de seguridad se aplican a las armas de fuego. Control de vacío totalmente automático Función de bloqueo al vacío Bajo vacíoRango de 10 ~ 270Pa para el cambio rápido en 90 segundos para la EEB ((LV) |
1 conjunto de bombas iónicas 1 Bomba Turbo Molecular 1 Bomba mecánica Vacío de la sala de muestreo> 6E-4Pa Las medidas de seguridad se aplicarán a las armas de fuego. Control de vacío totalmente automático Función de bloqueo al vacío |
1 Bomba de iones de pulverización 1 Bomba de compuestos iónicos de Getter 1 Bomba Turbo Molecular 1 Bomba mecánica Vacío de la sala de muestreo> 6E-4Pa Las medidas de seguridad se aplicarán a las armas de fuego. Control de vacío totalmente automático Función de bloqueo al vacío |
| El detector | Sección SE: Detector secundario de electrones de alto vacío (con protección del detector) | Sección SE: Detector secundario de electrones de alto vacío (con protección del detector) | Sección SE: Detector secundario de electrones de alto vacío (con protección del detector) |
| BSE: Segmentación de los semiconductores Detector de dispersión hacia atrás |
No se puede optar | No se puede optar | |
| Modelo opcional: A63.7069-LV Especies de aves de corral: Semiconductor 4 Segmentación Detector de dispersión hacia atrás |
|||
| CCD: ¿ Qué está pasando?Cámara CCD de infrarrojos | CCD: ¿ Qué está pasando?Cámara CCD de infrarrojos | CCD: ¿ Qué está pasando?Cámara CCD de infrarrojos | |
| Extender el puerto | 2 Extensión de puertos en la sala de muestras para EDS, BSD, WDS y demás. |
4 Extensión de puertos en el espacio de muestra para Especies de la familia de las leguminosas |
4 Extensión de puertos en el espacio de muestra para Especies de la familia de las leguminosas |
| Fase de la muestra | 5 Ejes Etapa, 4Auto.Un +1.Manual de trabajoControl de las emisiones Distancia de recorrido: X = 70 mm, Y = 50 mm, Z = 45 mm, R=360°, T=-5°~+90° ((Manual) Función de alerta y parada táctil Modelo opcional: A63.7069-L5 Ejes Auto Gran escenario |
5 EjesAuto. En el medioEscenario Distancia de recorrido: X = 80 mm, Y = 50 mm, Z = 30 mm, R=360°, T=-5°~+70° Función de alerta y parada táctil Modelo opcional: A63.7080-L5 EjesAuto. Gran cantidadEscenario |
5 EjesAuto. Gran cantidadEscenario Distancia de recorrido: X = 150 mm, Y = 150 mm, Z = 60 mm, R=360°, T=-5°~+70° Función de alerta y parada táctil |
| Especimen máximo | Diámetro 175 mm, altura 35 mm | Diámetro 175 mm, altura 20 mm | Diámetro 340 mm, altura 50 mm |
| Sistema de imágenes | Imagen fija real con resolución máxima de 4096x4096 píxeles. Formatos de archivo de imagen: BMP ((Default), GIF, JPG, PNG, TIF |
Imagen fija real con resolución máxima de 16384x16384 píxeles. Formatos de archivo de imagen: TIF (por defecto), BMP, GIF, JPG, PNG Video: Grabación automática digital. Video AVI |
Imagen fija real con resolución máxima de 16384x16384 píxeles. Formatos de archivo de imagen: TIF (por defecto), BMP, GIF, JPG, PNG Video: Grabación automática digital. Video AVI |
| Informática y software | PC Work Station Win 10 System, con software de análisis de imagen profesional para controlar completamente toda la operación del microscopio SEM, especificación del ordenador no inferior a Inter I5 3.2GHz, memoria 4G,Monitoreo LCD IPS de 24 pulgadas, 500G Disco duro, ratón, teclado | ||
| Muestra de fotos | El nivel de imagen es rico y meticuloso, mostrando aumento en tiempo real, regla, voltaje, curva gris | ||
| Dimensión & Peso |
Cuerpo del microscopio 800x800x1850mm Mesa de trabajo 1340x850x740 mm Peso total 400 kg |
Cuerpo del microscopio 800x800x1480mm Mesa de trabajo 1340x850x740 mm Peso total 450 kg |
Cuerpo del microscopio 1000x1000x1730 mm Mesa de trabajo 1330x850x740 mm Peso total 550 kg |
| Accesorios opcionales | |||
| Accesorios opcionales | Es el A50.7002Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía EDS Es el A50.7011Revestimiento de pulverización iónica |
Es el A50.7001Detector de electrones de dispersión de espalda de EEB Es el A50.7002Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía EDS Es el A50.7011Revestimiento de pulverización iónica Es el A50.7030Panel de control de motor |
Es el A50.7001Detector de electrones de dispersión de espalda de EEB Es el A50.7002Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía EDS Es el A50.7011Revestimiento de pulverización iónica Es el A50.7030Panel de control de motor |
| Es el A50.7001 | Detector de EEB | Detector de retrodispersión de cuatro segmentos de semiconductores; Disponible en ingredientes A+B, información morfológica A-B; Observación de muestras disponibles sin pulverizar oro; Disponible en la observación de impurezas y distribución desde el mapa de escala de grises directamente. |
| Es el A50.7002 | SED (detector de rayos X) | Fenómeno de nitruro de silicio (Si3N4) para optimizar la transmisión de rayos X de baja energía para el análisis de elementos ligeros; Excelente resolución y su avanzada electrónica de bajo ruido proporcionan un rendimiento de transmisión excepcional; La pequeña huella ofrece flexibilidad para garantizar la geometría ideal y las condiciones de recolección de AATA; Los detectores contienen un chip de 30 mm2. |
| Es el A50.7003 | EBSD (difracción de haz de electrones dispersa hacia atrás) | El usuario podría analizar la orientación cristalina, la fase cristalina y la micro textura de los materiales y el rendimiento de los materiales relacionados, etc. Optimización automática de la configuración de la cámara EBSD durante la recopilación de datos, hacer análisis interactivo en tiempo real para obtener la máxima información todos los datos fueron marcados con una etiqueta de tiempo, que se puede ver en cualquier momento alta resolución 1392 x 1040 x 12 Velocidad de escaneo e índice: 198 puntos/seg, con Ni como estándar, bajo la condición de 2~5nA, puede garantizar la tasa de índice ≥99%; Funciona bien en condiciones de corriente de luz baja y voltaje bajo de 5kV a 100pA precisión de medición de orientación: mejor de 0,1 grados Usando el sistema de índices triplex: no es necesario depender de la definición de banda única, fácil indexación de la mala calidad del patrón base de datos dedicada: base de datos especial de EBSD obtenida por difracción de electrones: >400 estructura de fase Capacidad de indexación: puede indexar automáticamente todos los materiales cristalinos de 7 sistemas cristalinos. Las opciones avanzadas incluyen el cálculo de la rigidez elástica (Elastic Stiffness), factor Taylor (Taylor), factor Schmidt (Schmid) y así sucesivamente. |
| Es el A50.7010 | Máquina de recubrimiento | Conchas de vidrio de protección: ¥250 mm; 340 mm de altura; Cámara de procesamiento de vidrio: ¥88mm; 140mm Alto, ¥88mm; 57mm Alto; El tamaño de la etapa de la muestra: ¥40 mm (máximo); Sistema de vacío: bomba de moléculas y bomba mecánica; Detección de vacío: Pirani Gage; Las características de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de los componentes de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de los componentes de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de las máquinas de ensayo. Protección contra el vacío:20 Pa con válvula de inflación a microescala; Movimiento de la muestra: Rotación del plano, precesión de inclinación. |
| Es el A50.7011 | Revestimiento de pulverización iónica | Cámara de procesamiento de vidrio: 100 mm; 130 mm de altura; El tamaño de la etapa de la muestra: 40 mm ((Contiene 6 tazas de muestra) ; El tamaño de la meta de oro: ¥58mm*0.12mm (grandote); Detección de vacío: Pirani Gage; Protección contra el vacío:20 Pa con válvula de inflación a microescala; Gas medio:Argón o aire con entrada de aire especial de gas de argón y regulación de gas a escala microscópica. |
| Es el A50.7012 | Revestimiento de pulverización de iones de argón | La muestra fue recubierta con carbono y oro bajo vacío. Cuadro de muestras giratorio, revestimiento uniforme, tamaño de partícula de aproximadamente 3-5 nm; No se selecciona el material objetivo, no se dañan las muestras; Las funciones de la limpieza de iones y el adelgazamiento de iones pueden ser realizadas. |
| Es el A50.7013 | Secador de puntos críticos | Diámetro interno: 82 mm, longitud interior: 82 mm; Las condiciones de los equipos de ensayo deberán ser las siguientes: Rango de temperatura: 0°-50° C (32°-122° F) |
| Es el A50.7014 | Litografía de haz de electrones | Basado en el microscopio electrónico de escaneo, se desarrolló un nuevo sistema de nanoexposición; La modificación ha mantenido todas las funciones de Sem para hacer una imagen de ancho de línea a nanoescala; El sistema Ebl modificado se aplica ampliamente en dispositivos microelectrónicos, dispositivos optoelectrónicos, dispositivos cuánticos, investigación y desarrollo de sistemas microelectrónicos. |
| A63.7069 Equipo de consumibles estándar | |||
| 1 | Filamentos de tungsteno | Precentrado, importado | 1 caja (5 piezas) |
| 2 | Copo de muestra | Diámetro 13 mm | 5 piezas |
| 3 | Copo de muestra | Dia.32 mm | 5 piezas |
| 4 | Cintas conductoras de doble cara de carbono | 6 mm | 1 Embalaje |
| 5 | Grasa de vacío | 10 piezas | |
| 6 | Tejido sin pelo | 1 tubo | |
| 7 | Pasta para pulir | 1 Pc | |
| 8 | Cuadro de muestra | 2 bolsas | |
| 9 | Envases de algodón | 1 Pc | |
| 10 | Filtro de niebla de aceite | 1 Pc | |
| A63.7069 Equipo de herramientas y piezas estándar | |||
| 1 | Apagón de hexágono interno | 1.5 mm ~ 10 mm | 1 conjunto |
| 2 | Las pinzas | Duración 100-120 mm | 1 Pc |
| 3 | Torcedor con ranura | 2*50 mm, 2*125 mm | 2 piezas |
| 4 | Torcedora cruzada | 2*125 mmm | 1 Pc |
| 5 | Removedor de diafragma | 1 Pc | |
| 6 | Rod de limpieza | 1 Pc | |
| 7 | Herramienta de ajuste del filamento | 1 Pc | |
| 8 | En el caso de las filamentas de aluminio, el valor de las filamentas de aluminio es igual o superior al valor de las filamentas de aluminio. | 3 Pc | |
| 9 | Extractor de tubos | 1 Pc | |
| Instrumento de preparación de muestras para microscopio electrónico de exploración | ||
|
|
|
|
Productos relacionados
Nuestros productos se venden en todo el mundo, puede estar seguro de todo el proceso de nuestros productos.