Opto-EDU A63.7003 Microscopio electrónico de escaneo de filamentos de tungsteno SE BSE 360000x 4nm@20KV
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Resolution4nm@20KV
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Magnification360000x
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Electron GunTungsten
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Voltage3-20KV
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DetectorBSE+SE
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Navigation CCDCCD+Cabin Camera
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Place of OriginChina
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Nombre de la marcaCNOEC, OPTO-EDU
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CertificaciónCE, Rohs
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Model NumberA63.7003
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Documento
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Minimum Order Quantity1 pc
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PrecioFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Packaging DetailsCarton Packing, For Export Transportation
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Delivery Time5~20 Days
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Payment TermsT/T, West Union, Paypal
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Supply Ability5000 pcs/ Month
Opto-EDU A63.7003 Microscopio electrónico de escaneo de filamentos de tungsteno SE BSE 360000x 4nm@20KV
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El A63.7003 Microscopios electrónicos de exploración de escritorio (SEM)incorporan numerosas tecnologías innovadoras, que ofrecen no sólo un excelente rendimiento de imagen sino también la portabilidad, satisfaciendo una amplia gama de necesidades de aplicación.Tanto a nivel nacional como internacional, la serie ZEM, con su posicionamiento de gama alta y diversos modelos, ha alcanzado estándares avanzados en claridad de imagen, facilidad de uso e integración del sistema.
El A63.7003Es conocido por su alto nivel de integración y opciones de configuración flexibles. La interfaz de usuario es simple, fácil de aprender y operar, permitiendo que incluso los usuarios no expertos se vuelvan rápidamente expertos.El software que acompaña soporta todo el flujo de trabajo, desde la preparación de muestras, el ajuste de parámetros hasta el análisis de imágenes, proporcionando una solución integrada y eficiente.El A63.7003ha demostrado unas sólidas capacidades analíticas en múltiples campos, como los nuevos materiales, la nueva energía, la biomedicina y los semiconductores,ayudar a los investigadores a explorar los misterios del mundo microscópicoDebido a su excelente relación coste-rendimiento, la serie ZEM se ha convertido en una opción preferida para muchas universidades, instituciones de investigación,y empresas que buscan un microscopio electrónico de exploración de escritorio.
El A63.7003 benchtop SEM utiliza un rango más amplio de tensiones de aceleración, 1Kvsteps y un aumento máximo de 360,El modo de desaceleración de la mesa permite la observación en tiempo real de productos de baja conductividad sin necesidad de rociar oroEl compartimiento de muestreo extragrande puede integrarse con una amplia gama de plataformas de expansión in situ para satisfacer diferentes necesidades de experimentación e inspección. |
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Condiciones de trabajo: Requisitos medioambientales: pequeño tamaño, toda la máquina puede colocarse en una mesa de laboratorio ordinaria, no es necesario equiparla con una mesa de amortiguación adicional. 1Fuente de alimentación 220V, 50Hz, 1KW 2.Temperatura: temperatura ambiente de trabajo: 15°C-30°C 3.Humedad: < 80% de HRC |
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Especificación principal: 1Voltado de aceleración: 3-20 kV, ajustable continuamente. 2Tipo de pistola de electrones: filamento de tungsteno pre-alineado, vida útil de 100 horas, fácil de reemplazar por el usuario, lente de pistola de dos etapas altamente integrada, sin necesidad de ajustar manualmente el diafragma de la lente objetiva. 3. Magnificación ≥ 360000XEl artículo 2, apartado 1 4Resolución.Se trata de:4nm@20KV 5Detector: detector de electrones secundario (SE), detector de retrodispersión cuadruple (BSE), 6- Escenario: 2 Ejes XY motorizado, con movimiento de 60x55 mmEl artículo 2, apartado 1 7- Tamaño máximo de la muestra: 100*78*68,5 mm mientras los ejes XY se mueven libremente 8- cambio de muestra y tiempo de bombeo de vacío elevado ≤ 30 s. 9- Sistema de vacío elevado: bomba molecular turbo integrada, bomba mecánica externa, el vacío en la cámara de muestreo ≥ 1x10-1Pa, control totalmente automático; 10. Modo de vídeo ≥512x512 píxeles, sin necesidad de escanear ventanas pequeñas. 11. Modo de escaneo rápido: tiempo de obtención de imágenes≤3 segundos, 512x512 píxeles. 12. Modo de escaneo lento: tiempo de obtención de imágenes≤40s, 2048x2048 píxeles. 13. Archivo de imagen: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14Ajuste automático de brillo y contraste, enfoque automático, ajuste de imagen grande 15Función de navegación: navegación por cámara óptica y cámara de cabina. 16Función de medición de imagen: distancia, ángulo, etc. 17Incluyendo computadora y software, control del ratón. 18- Opcional: -- Filamentos de tungsteno (20pcs por caja) --EDS --3 Eje Motorizado XYZ --3 Eje Motorizado XYT --5 Eje Motorizado de Etapa XYZRT - Bajo vacío (1-100 Pa) - Modo de desaceleración, 1-10KV, puede observar muestras no conductoras o de mala conductividad sin rociar oro, solo para el modo de EEB --Fase in situ de la fábrica original, calefacción, refrigeración, estiramiento, etc. - Plataforma de amortiguación (recomendado para A63.7003) 19.Tamaño del microscopio 650*370*642mm, tamaño de la bomba mecánica 340*160*140mm |
| Modelo | El A63.7001 | El A63.7002 | El A63.7003 | El A63.7004 | El A63.7005 |
| Resolución | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
| Magnificación | Se trata de: | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000 veces |
| Arma de electrones | El tungsteno | El tungsteno | El tungsteno | LaB6 | FEG de Schotty |
| Válvula de tensión | 5/10/15KV | 3 a 18 KV | 3 a 20 KV | 3 a 20 KV | 1 a 15 KV |
| El detector | EEB+EES | EEB+EES | EEB+EES | EEB+EES | EEB+EES |
| CCD de navegación | El CCD | El CCD | CCD+cámara de cabina | CCD+cámara de cabina | CCD+cámara de cabina |
| Tiempo de vacío | Los años 90 | Los años 90 | 30 años | Los años 90 | 180 años |
| Sistema de vacío | Pompas mecánicas Bomba molecular |
Pompas mecánicas Bomba molecular |
Pompas mecánicas Bomba molecular |
Pompas mecánicas Bomba molecular Bomba de iones |
Pompas mecánicas Bomba molecular Bomba de iones x2 |
| El vacío | Vaccum alto 1x10-1Pa |
Vaccum alto 1x10-1Pa |
Vaccum alto 1x10-1Pa |
Vaccum alto 5x10-4Pa |
Vaccum alto 5x10-4Pa |
| Escenario | Estadio XY, Las medidas de ensayo se aplicarán a las medidas de ensayo que se indiquen en el punto 3. |
Estadio XY, Las medidas de ensayo se aplicarán a las medidas de ensayo que se indiquen en el punto 3. |
Estadio XY, 60x55 mm |
Estadio XY, 60x55 mm |
Estadio XY, 60x55 mm |
| Precisión del escenario | - | Posición exacta 5um | |||
| Distancia de trabajo | 5 a 35 mm | 5 a 35 mm | 5 a 73,4 mm | 5 a 73,4 mm | 5 a 73,4 mm |
| Especimen máximo | Las medidas de seguridad se aplicarán a las medidas de seguridad. | Las medidas de seguridad se aplicarán a las medidas de seguridad. | Las medidas se aplicarán en el caso de los vehículos de la categoría M1 y M2. | Las medidas se aplicarán en el caso de los vehículos de la categoría M1 y M2. | Las medidas se aplicarán en el caso de los vehículos de la categoría M1 y M2. |
| No se puede optar | Filamentos de tungsteno 20 piezas por caja | Filamento de laboratorio 6 | Lámpara de emisión de campo | ||
| EDS Oxford AZtecOne con el XploreCompact 30 | |||||
| - | Bajo vacío 1 a 100 Pa | Bajo vacío 1-30 Pa | |||
| - | Modulo del eje Z | 3 Ejes de la etapa, X 60 mm, Y 50 mm, Z 25 mm | |||
| - | Módulo del eje T | 3 Ejes Etapa, X 60 mm, Y 50 mm, T ± 20° | |||
| - | - | 5 Eje de etapa, X 90 mm, Y 50 mm, Z 25 mm, T ± 20°, R 360° | |||
| - | - | Plataforma amortiguadora para 3 ejes y 5 ejes | |||
| - | Modo de desaceleración 1-10KV para observar muestras no conductoras, sólo para la EEB | ||||
| - | Estadio in situ desde la fábrica original, calefacción, refrigeración, estiramiento, etc. | ||||
| Unidad de transmisión | |||||
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¿Qué es esto? ▶AZtecOne con XploreCompact 30 para TTM
Análisis del sistema de educación convencional El sistema proporciona un análisis cualitativo y cuantitativo de los diferentes materiales, analizando elementos que van desde B ((5) a cf (98).También están disponibles escáneres de línea y escáneres espectral elemental.. combinado con un detector personalizado, el análisis y el informe se pueden hacer en segundos. |
| Área de cristal eficaz | 30 mm2 | Resolución (de una foto) | Se aplicará el método de ensayo siguiente: |
| Rango de detección elemental | B (5) a cf (98) | Tasa máxima de recuento de entradas | > 1,000, 000 cps |
Nuestros productos se venden en todo el mundo, puede estar seguro de todo el proceso de nuestros productos.