Rendimiento excepcional, imágenes de alta velocidad, diversas señales. El microscopio electrónico de barrido de escritorio ZEM18 tiene un ancho de banda de adquisición de señal de hasta 10M, velocidad de escaneo rápida, observación en tiempo real de muestras en modo de video, sin fantasmas, arrastre, no se pierda ningún detalle. Compatible con una variedad de etapas de muestra funcionales in situ ZEP.TOOLS.
Especificación principal: 1. Voltaje de aceleración: 3-18kV, ajustable continuamente. 2. Tipo de cañón de electrones: filamento de tungsteno prealineado, vida útil de 100 horas, fácil de reemplazar por el usuario, lente de cañón de dos etapas altamente integrada, sin necesidad de ajustar manualmente el diafragma de la lente del objetivo. 3. Ampliación ≥200000X; 4. Resolución:≤6nm@18KV 5. Detector: detector de electrones secundarios (SE), detector de retrodispersión cuádruple (BSE), 6. Etapa: etapa motorizada XY de 2 ejes, movimiento 40x30 mm (40x40 mm opcional); 7. Tamaño máximo de la muestra: 80x42x40mm 8. Cambio de muestra y tiempo de bombeo de alto vacío≤ 90s. 9. Sistema de alto vacío: bomba turbomolecular incorporada, bomba mecánica externa, el vacío en la cámara de muestra ≥1x10-1Pa, control totalmente automático; 10. Modo de video ≥512x512 píxeles, sin necesidad de escaneo de ventana pequeña. 11. Modo de escaneo rápido: tiempo de imagen≤3s, 512x512 píxeles. 12. Modo de escaneo lento: tiempo de imagen≤40s, 2048x2048 píxeles. 13. Archivo de imagen: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14. Ajuste automático de brillo y contraste con una sola tecla, enfoque automático, costura de imágenes grandes 15. Función de navegación: navegación con cámara óptica y cámara de cabina. 16. Función de medición de imágenes: distancia, ángulo, etc. 17. Incluye computadora y software, control con mouse. 18. Opcional: --Filamento de tungsteno (20 piezas/caja) --EDS --Bajo vacío (1-100Pa) --Módulo de eje Z, eje T --Modo de desaceleración, 1-10KV, puede observar muestras no conductoras o de baja conductividad sin rociado de oro, solo para el modo BSE --Etapa In-Situ de fábrica original, calentamiento, enfriamiento, estiramiento, etc. 19. Tamaño del microscopio: 283*553*505mm, tamaño de la bomba mecánica 340*160*140mm |
Modelo | A63.7001 | A63.7002 | A63.7003 | A63.7004 | A63.7005 |
Resolución | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
Ampliación | 150000x | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000x |
Cañón de electrones | Tungsteno | Tungsteno | Tungsteno | LaB6 | Schotty FEG |
Voltaje | 5/10/15KV | 3-18KV | 3-20KV | 3-20KV | 1-15KV |
Detector | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE |
CCD de navegación | CCD | CCD | CCD+Cámara de cabina | CCD+Cámara de cabina | CCD+Cámara de cabina |
Tiempo de vacío | 90s | 90s | 30s | 90s | 180s |
Sistema de vacío | Bomba mecánica Bomba molecular |
Bomba mecánica Bomba molecular |
Bomba mecánica Bomba molecular |
Bomba mecánica Bomba molecular Bomba de iones |
Bomba mecánica Bomba molecular Bomba de iones x2 |
Vacío | Alto vacío 1x10-1Pa |
Alto vacío 1x10-1Pa |
Alto vacío 1x10-1Pa |
Alto vacío 5x10-4Pa |
Alto vacío 5x10-4Pa |
Etapa | Etapa XY, 40x30/40x40mm |
Etapa XY, 40x30/40x40mm |
Etapa XY, 60x55mm |
Etapa XY, 60x55mm |
Etapa XY, 60x55mm |
Precisión de la etapa | - | Precisión de posición 5um | |||
Distancia de trabajo | 5-35mm | 5-35mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm |
Muestra máx. | 80x42x40mm | 80x42x40mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm |
Opcional | Filamento de tungsteno 20 piezas/caja | Filamento Lab6 | Lámpara de emisión de campo | ||
EDS Oxford AZtecOne con XploreCompact 30 | |||||
- | Bajo vacío 1-100Pa | Bajo vacío 1-30Pa | |||
- | Módulo de eje Z | Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm | |||
- | Módulo de eje T | Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, T ±20° | |||
- | - | Etapa de 5 ejes, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360° | |||
- | - | Plataforma amortiguadora de golpes, para etapa de 3 ejes, 5 ejes | |||
- | Modo de desaceleración 1-10KV para observar muestras no conductoras, solo para BSE | ||||
- | Etapa In-Situ de fábrica original, calentamiento, enfriamiento, estiramiento, etc. | ||||
UPS |
▶ AZtecOne con XploreCompact 30 para TTM
Análisis EDS convencional del sistema El sistema proporciona análisis cualitativos y cuantitativos de diferentes materiales, analizando elementos que van desde B(5) hasta cf (98). Además de los escaneos de puntos individuales de la superficie de la muestra, también están disponibles escaneos de línea y escaneos espectrales elementales. Combinado con un detector personalizado, el análisis y la generación de informes se pueden realizar en segundos. |
Área cristalina efectiva | 30mm2 | Resolución (de una foto) | Mn Ka <129eV @50,000cps |
Rango de detección elemental | B (5) a cf (98) | Tasa de conteo de entrada máxima | >1,000,000 cps |