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OPTO-EDU A63.7001 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 150000x 10nm@15KV

OPTO-EDU A63.7001 Microscopio Electrónico de Barrido de Filamento de Tungsteno SE BSE 150000x 10nm@15KV

  • Resolution
    10nm@15KV
  • Magnification
    150000x
  • Electron Gun
    Tungsten
  • Voltage
    5/10/15KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD
  • Place of Origin
    China
  • Nombre de la marca
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Certificación
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7001
  • Documento
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • Precio
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7001 Microscopio Electrónico de Barrido de Filamento de Tungsteno SE BSE 150000x 10nm@15KV

  • Ampliación 150000x Resolución 10nm@15KV Con Detector SE+BSE+CCD, EDS opcional,
  • Etapa motorizada XY estándar de 2 ejes, movimiento 40x30mm (40x40mm opcional)
  • Tamaño máximo de la muestra 80x42x40mm, distancia de trabajo 5-35mm
  • Alto vacío 1x10-1Pa en cámara, con bomba mecánica, bomba molecular
  • Enfoque automático de una tecla, ajuste automático de brillo y contraste, sin necesidad de mesa amortiguadora de golpes
OPTO-EDU A63.7001 Microscopio Electrónico de Barrido de Filamento de Tungsteno SE BSE 150000x 10nm@15KV 0
 
OPTO-EDU A63.7001 Microscopio Electrónico de Barrido de Filamento de Tungsteno SE BSE 150000x 10nm@15KV 1

La microscopía electrónica de barrido (SEM) es un medio de observación entre la microscopía electrónica de transmisión (TEM) y la microscopía óptica.

 

Escanea la muestra con un haz de electrones de alta energía enfocado, y excita varias sustancias a través de la interacción entre el haz y la materia. La información se recopila, amplifica y vuelve a generar imágenes para lograr el propósito de caracterizar la morfología microscópica del material. Adhiriéndose a los objetivos de diseño de operación conveniente, imagen rápida y rendimiento estable, OPTO-EDU ha desarrollado de forma independiente un escáner de escritorio de filamento de tungsteno.

Microscopio electrónico de barrido A63.7001tiene unavelocidad de escaneo rápiday un ancho de banda de adquisición de señal de 10M, que puede mostrar muestras de forma fluida y en tiempo real en modo de video. Todas las operaciones se pueden completar con un mouse, y no hay necesidad de pasos complejos como centrar el diafragma. Después de enfocar y eliminar el astigmatismo, puede tomar fotografías directamente. El host integra alta tensión y sistema de control, tamaño pequeño, fácil de mover, sin entorno especial para la instalación, solo encuentre una mesa, enchufe la alimentación, puede comenzar a trabajar.

 
 
OPTO-EDU A63.7001 Microscopio Electrónico de Barrido de Filamento de Tungsteno SE BSE 150000x 10nm@15KV 2

Especificación principal:

1. Voltaje de aceleración: 5KV/10KV/15KV

2. Tipo de cañón de electrones: filamento de tungsteno prealineado, vida útil 100 horas, fácil de reemplazar por el usuario, lente de cañón de dos etapas altamente integrada, sin necesidad de ajustar manualmente el diafragma del objetivo.

3. Ampliación ≥150000X

4. Resolución:≤10nm@15KV

5. Detector: detector de electrones secundarios (SE), detector de retrodispersión cuádruple (BSE),

6. Etapa: etapa motorizada XY de 2 ejes, movimiento 40x30mm (40x40mm opcional)

7. Tamaño máximo de la muestra:  80x42x40mm

8. Cambio de muestra y tiempo de bombeo de alto vacío ≤ 90s.

9. Sistema de alto vacío: bomba turbomolecular incorporada, bomba mecánica externa,  el vacío en la cámara de muestra ≥1x10-1Pa, control totalmente automático;

10. Modo de video ≥512x512 píxeles, sin necesidad de escaneo de ventana pequeña.

11. Modo de escaneo rápido: tiempo de imagen ≤3s, 512x512 píxeles.

12. Modo de escaneo lento: tiempo de imagen ≤40s, 2048x2048 píxeles.

13. Archivo de imagen: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. Ajuste automático de brillo y contraste con una sola tecla, enfoque automático.

15. Función de navegación: navegación con cámara óptica y cámara de cabina.

16. Función de medición de imágenes: distancia, ángulo, etc.

17. Incluye computadora y software, control con mouse.

18. Opcional:

--Filamento de tungsteno (20 piezas/caja)

--EDS

19. Tamaño del microscopio: 283*553*505mm, tamaño de la bomba mecánica 340*160*140mm

 
 
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Modelo A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
Resolución 10nm@15KV 6nm@18KV 4nm@20KV 3nm@20KV 2.5nm@15KV
Ampliación 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
Cañón de electrones Tungsteno Tungsteno Tungsteno LaB6 Schotty FEG
Voltaje 5/10/15KV 3-18KV 3-20KV 3-20KV 1-15KV
Detector BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
CCD de navegación CCD CCD CCD+Cámara de cabina CCD+Cámara de cabina CCD+Cámara de cabina
Tiempo de vacío 90s 90s 30s 90s 180s
Sistema de vacío Bomba mecánica
Bomba molecular
Bomba mecánica
Bomba molecular
Bomba mecánica
Bomba molecular
Bomba mecánica
Bomba molecular
Bomba de iones
Bomba mecánica
Bomba molecular
Bomba de iones x2
Vacío Alto vacío
1x10-1Pa
Alto vacío
1x10-1Pa
Alto vacío
1x10-1Pa
Alto vacío
5x10-4Pa
Alto vacío
5x10-4Pa
Etapa Etapa XY,
40x30/40x40mm
Etapa XY,
40x30/40x40mm
Etapa XY,
60x55mm
Etapa XY,
60x55mm
Etapa XY,
60x55mm
Precisión de la etapa - Posición precisa 5um
Distancia de trabajo 5-35mm 5-35mm 5-73.4mm 5-73.4mm 5-73.4mm
Muestra máxima 80x42x40mm 80x42x40mm 100x78x68.5mm 100x78x68.5mm 100x78x68.5mm
Opcional Filamento de tungsteno 20 piezas/caja Filamento Lab6 Lámpara de emisión de campo
EDS Oxford AZtecOne con XploreCompact 30
- Bajo vacío  1-100Pa Bajo vacío 1-30Pa
- Módulo del eje Z Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm
- Módulo del eje T Etapa de 3 ejes, X 60mm, Y 50mm, T ±20°
- - Etapa de 5 ejes, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360°
- - Plataforma amortiguadora de golpes, para etapa de 3 ejes, 5 ejes
- Modo de desaceleración 1-10KV para observar muestras no conductoras, solo para BSE
- Etapa in situ de fábrica original, calentamiento, enfriamiento, estiramiento, etc. 
UPS
 
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