OPTO-EDU A63.7230 Microscopio electrónico de transmisión por escaneo STEM 50KV 800000x
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Modo de la proyección de imagenBF/DF (campo brillante/campo oscuro)
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Voltado de aterrizaje en el modo STEM50KV
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Tipo de detectorDetector directo de semiconductores
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Arma de electrónEmisión de campo térmica tipo Schottky
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Corriente de haz de electronesEntre 50pA y 100nA
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Fase de muestraX=±4mm, Y=±4mm, Precisión de posicionamiento 1um
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Lugar de origenChina.
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Nombre de la marcaCNOEC, OPTO-EDU
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CertificaciónCE, Rohs
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Número de modeloEl A63.7230
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Documento
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Cantidad de orden mínima1 por ciento
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PrecioFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Detalles de empaquetadoEmbalaje del cartón, para el transporte de la exportación
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Tiempo de entregaEntre 5 y 20 días
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Condiciones de pagoT/T, unión del oeste, Paypal
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Capacidad de la fuentemes de 5000 PC
OPTO-EDU A63.7230 Microscopio electrónico de transmisión por escaneo STEM 50KV 800000x
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Sistema de análisis de imágenes de micropartículas automático y rápido A63.7230 es un microscopio electrónico de transmisión de barrido (STEM) rápido, inteligente y totalmente automatizado con derechos de propiedad intelectual completos a 50KV. Satisface las necesidades de aplicación en campos como la observación de la morfología viral, las pruebas de seguridad de los bancos de células de vacunas, la investigación y fabricación de vacunas, la investigación de cortes de tejido patológico clínico y la investigación biológica sobre la conectómica neuronal cerebral. |
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Tecnología central A63.7230 |
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◉ Sistema óptico electrónico de alta resolución y alto brillo Imágenes ultrarrápidas de 100M/s a 50KV. El sistema tiene capacidad de análisis a nanoescala a nivel de video (25 fps@2k*2k), lo que permite la adquisición de información totalmente automatizada sin omisiones, manteniendo una alta resolución. ◉ Detector de electrones directos de alta sensibilidad Todos los detectores del A63.7230 utilizan detectores de electrones directos diseñados independientemente, que convierten los electrones directamente en señales eléctricas, logrando una eficiencia de detección de más del 80% y una mayor relación señal-ruido (SNR). ◉ Conmutación rápida entre imágenes de campo grande y alta resolución El diseño óptico electrónico innovador permite que las imágenes de campo grande y las imágenes de alta resolución funcionen de forma independiente, lo que permite una conmutación rápida, la identificación y el posicionamiento precisos de las partículas y la obtención rápida de imágenes de alta resolución. ◉ Plataforma de movimiento mecánico de alta velocidad y alta estabilidad Utiliza una plataforma de movimiento sin vibraciones, X=±4mm, Y=±4mm, precisión de posicionamiento 1um. |
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| Microscopio electrónico de transmisión de barrido (STEM) A63.7230 | |
| Resolución | 1.0nm@50kV |
| (Corriente de haz de 1nA, en condiciones óptimas) | |
| Modo de imagen | BF/DF (Campo Brillante/Campo Oscuro) |
| Voltaje de aterrizaje en modo STEM | 50KV |
| Tipo de detector | Detector directo de semiconductores |
| Ampliación | 1X-500X (Imágenes ópticas de baja magnificación) |
| 500X - 800,000X (Imágenes STEM) | |
| Cañón de electrones | Emisión de campo térmico tipo Schottky |
| Corriente del haz de electrones | 50pA a 100nA |
| Etapa de muestra | X=±4mm, Y=±4mm, Precisión de posicionamiento 1um |
| Flujo de imágenes | Puede completar la obtención de imágenes de un área de 1x1mm² a 4nm por píxel en 0.5 horas |
| Adquisición de imágenes ultrarrápida | 100MB/s, una sola imagen de 24k x 24k tarda solo 6.5 segundos en capturarse |
| Método de adquisición | Adquisición STEM de campo brillante (BF) o campo oscuro (DF) |
| Software de control de microscopio electrónico de alto rendimiento | Equipado con optimización automática de imágenes, seguimiento inteligente del enfoque, navegación óptica panorámica y funciones de adquisición totalmente automatizadas de gran área |
| Conmutación rápida entre imágenes de campo grande y alta resolución | Diseño óptico electrónico innovador, operación independiente de imágenes de campo grande e imágenes de alta resolución, conmutación rápida, identificación y posicionamiento precisos de partículas, obtención rápida de imágenes de alta resolución |
| Software de procesamiento de análisis de imágenes Servidor de IA | Imágenes de campo ultra grande, 100um@25nm, reconocimiento y medición de alta eficiencia del servidor de IA |
| Capacidad de detección cuantitativa de partículas de alto rendimiento | Nuevo sistema de carga de muestras y sistema de gestión de muestras automatizado, que garantiza la detección cuantitativa |
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▶ Sistema óptico diseñado para la detección de micropartículas totalmente automatizada
Los microscopios electrónicos de transmisión tradicionales tienen un campo de visión pequeño, que no puede satisfacer las necesidades de detección e identificación de una gran cantidad de nanopartículas. A63.7230 está diseñado en base a los conceptos de equipos de detección de haz de electrones de grado industrial de semiconductores, logrando capacidades de detección de nanopartículas de alto rendimiento.
A63.7230 logra imágenes ultrarrápidas a través de diseños innovadores como tecnología de imágenes rápidas, etapa de muestra sin vibraciones, sistema óptico electrónico de alta velocidad y tecnología de IA, con velocidades de imagen que alcanzan docenas de veces las de los microscopios electrónicos tradicionales. |
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▶ Diseño totalmente automatizado Una serie de acciones como la inspección de encendido, el posicionamiento de navegación, el centrado con un solo clic, el ajuste del enfoque y la corrección de desplazamiento están automatizadas. El sistema de seguimiento del enfoque en tiempo real está compuesto por hardware y software. El uso de la deflexión electrónica precisa para lograr un posicionamiento preciso de las imágenes de muestra, lo que resulta en una alta repetibilidad de los resultados. No solo elimina la necesidad de un gran esfuerzo para ajustar y ubicar las posiciones de las muestras, sino que también utiliza la inteligencia de IA para la detección automática, logrando en última instancia un funcionamiento continuo sin supervisión. |
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▶ Funciones de software personalizables para diferentes clientes Aprovechando la inteligencia artificial moderna, los algoritmos de IA, etc., para ayudar al personal experimental en el análisis, desde la preparación de la muestra frontal hasta la obtención de imágenes y el cosido automático de secciones completas mediante el microscopio electrónico, generando mapas de alta resolución, y luego al procesamiento de datos posterior. El análisis inteligente de IA se puede utilizar para la detección y clasificación automática de partículas, proporcionando a los usuarios una solución completa. |
Nuestros productos se venden en todo el mundo, puede estar seguro de todo el proceso de nuestros productos.