OPTO-EDU A63.7225 Microscopio electrónico de transmisión de emisión térmica 200KV 800000x
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Váltidad de aceleración200 kV, fábrica alineada a 80 kV y 200 kV
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Fuente de electronesEmisor de tungsteno policristalino o LaB6
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Resolución de los puntos TEM0.23 nm
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Límite de Información TEM0.2 Nm
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Magnificación20 veces a 800000 veces.
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GoniómetroGoniometro excéntrico motorizado de 5 ejes,
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Lugar de origenChina.
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Nombre de la marcaCNOEC, OPTO-EDU
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CertificaciónCE, Rohs
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Número de modeloEl A63.7225
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Documento
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Cantidad de orden mínima1 por ciento
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PrecioFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Detalles de empaquetadoEmbalaje del cartón, para el transporte de la exportación
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Tiempo de entregaEntre 5 y 20 días
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Condiciones de pagoT/T, unión del oeste, Paypal
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Capacidad de la fuentemes de 5000 PC
OPTO-EDU A63.7225 Microscopio electrónico de transmisión de emisión térmica 200KV 800000x
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A63.7225 es un microscopio electrónico de transmisión (TEM) de emisión térmica, 200KV, 800000x, desarrollado y diseñado independientemente específicamente para campos como la biología y la medicina. Este diseño de microscopio electrónico es fácil de operar, y su diseño de zapata polar grande proporciona soluciones como caracterización 3D, observación in situ y difracción de electrones microcristalinos. |
| Operación simple | Diseño optimizado del panel y la interfaz de usuario, incluso los principiantes en microscopía electrónica de transmisión pueden operar directamente el dispositivo; Proporcionar videos instructivos para la operación. |
| Función automática | Inserción y extracción automática de varillas de muestra, control automático de apertura, etc. |
| Cámara de alta sensibilidad | El microscopio electrónico está equipado con una cámara CMOS de alta sensibilidad, que puede obtener fácilmente imágenes de alta calidad. |
| Microscopio electrónico de transmisión de emisión térmica, 200KV, 800000x | |
| Voltaje de aceleración | 200 kV, Alineado en fábrica a 80 kV y 200 kV |
| Fuente de electrones | Tungsteno policristalino o emisor LaB6 |
| Resolución puntual TEM | 0.23 nm |
| Límite de información TEM | 0.2 nm |
| Ampliación | 20x a 800000x. |
| Vacío del cañón FEG | < 1x10-6Pa, |
| Vacío de la columna TEM | <5x10-5Pa |
| Goniómetro | Goniómetro excéntrico motorizado de 5 ejes, |
| Cámara | Cámara CMOS EMSIS XAROSA 5120x3840 montada en la parte inferior, con velocidad mejorada de 20M |
| Etapa | Compu Stage con portaobjetos de doble inclinación |
| X ±1mm, Y ±1mm, Z ±0.35mm, α ±25°, β ±25° | |
| Actualizable | Análisis EDS |
| Garantía | Garantía de un (1) año. |
| Accesorios opcionales | |
| Instalación | Paquete de servicio opcional de instalación in situ y capacitación operativa |
| EDS | Bruker XFlash 7T30S |
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