Microscopio de fuerza atómica de barrido de sonda

• El diseño del cabezal de escaneo de pórtico, la base de mármol, la etapa de adsorción al vacío, el tamaño y el peso de la muestra son básicamente ilimitados
• Método de alimentación de aguja inteligente con detección automática de cerámica piezoeléctrica controlada por motor para proteger sondas y muestras
• Posicionamiento óptico automático, sin necesidad de ajustar el enfoque, observación en tiempo real y área de escaneo de muestra de la sonda de posicionamiento
• Equipado con escudo de metal cerrado, mesa neumática amortiguadora, fuerte capacidad antiinterferente;
• Editor de usuario de corrección no lineal de escáner integrado, caracterización nanométrica y precisión de medición superior al 98%

• 
• 

• ◆ El primer microscopio de fuerza atómica comercial en China que mantiene la muestra estacionaria y la sonda se mueve y escanea;

  ◆ El tamaño y el peso de la muestra son casi ilimitados, especialmente adecuados para la detección de muestras muy grandes;

• ◆ La etapa de muestra es altamente expandible, lo cual es muy conveniente para la combinación de múltiples instrumentos para realizar la detección in situ;

  ◆ Control eléctrico de la mesa móvil de muestras y la mesa elevadora, que se pueden programar con posición multipunto para realizar una detección automática rápida;

  ◆ Diseño de cabezal de escaneo de pórtico, base de mármol, etapa de adsorción al vacío y adsorción magnética;

• ◆ El motor controla automáticamente el método de alimentación de aguja inteligente de la detección automática de cerámica piezoeléctrica para proteger la sonda y la muestra;

• ◆ Posicionamiento del microscopio óptico auxiliar de gran aumento, observación en tiempo real y posicionamiento de la sonda y el área de escaneo de la muestra;

• ◆ Editor de usuario de corrección no lineal de escáner integrado, caracterización nanométrica y precisión de medición superior al 98%.

• 

•  

• 

• 	A62.4510	A62.4511
  Modo de trabajo	Modo de contacto Modo de toque [Opcional] Modo de fricción Modo de fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo de toque [Opcional] Modo de fricción Modo de fase Modo magnético Modo electrostático
  Curva de espectro actual	Curva RMS-Z Curva de fuerza FZ	Curva RMS-Z Curva de fuerza FZ
  Modo de escaneo XY	Escaneo impulsado por sonda, Escáner de tubo piezoeléctrico	Escaneo impulsado por muestras, etapa de escaneo por desplazamiento piezoeléctrico de circuito cerrado
  Rango de escaneo XY	70×70um	Lazo cerrado 100×100um
  Resolución de escaneo XY	0.2nm	Lazo cerrado 0.5nm
  Modo de escaneo Z		Escaneo impulsado por sonda
  Rango de escaneo Z	5um	5um
  Resolución de escaneo Z	0.05nm	0.05nm
  Velocidad de escaneo	0,6 Hz~30 Hz	0,6 Hz~30 Hz
  Ángulo de escaneo	0~360°	0~360°
  Peso de la muestra	≤15Kg	≤0.5Kg
  Tamaño del escenario	Diámetro 100 mm [Opcional] Diámetro 200 mm Diámetro 300 mm	Diámetro 100 mm [Opcional] Diámetro 200 mm Diámetro 300 mm
  Escenario XY en movimiento	100x100mm, Resolución 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Resolución 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm
  Etapa Z en movimiento	15 mm, resolución 10 nm [Opcional] 20 mm 25 mm	15 mm, resolución 10 nm [Opcional] 20 mm 25 mm
  Diseño amortiguador	Suspensión de resorte [Opcional] Amortiguador activo	Suspensión de resorte [Opcional] Amortiguador activo
  Sistema óptico	Objetivo 5x Cámara digital de 5,0 m [Opcional] Objetivo 10x Objetivo 20x	Objetivo 5x Cámara digital de 5,0 m [Opcional] Objetivo 10x Objetivo 20x
  Producción	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Ganar XP/7/8/10	Ganar XP/7/8/10
  Cuerpo principal	Cabezal de escaneo de pórtico, base de mármol	Cabezal de escaneo de pórtico, base de mármol

• Microscopio	Microscopio optico	Microscopio electrónico	Microscopio de sonda de barrido
  Resolución máxima (um)	0.18	0.00011	0.00008
  Observación	Inmersión en aceite 1500x	Imágenes de átomos de carbono de diamante	Imágenes de átomos de carbono grafíticos de alto orden

• Interacción sonda-muestra	Señal de medida	Información
  Fuerza	Fuerza electro-estática	Forma
  Corriente del túnel	Actual	Forma, Conductividad
  Fuerza magnética	Fase	Estructura Magnética
  Fuerza electro-estática	Fase	distribución de carga

• 	Resolución	Condiciones de trabajo	Temperatura de trabajo	Daño a la muestra	Profundidad de inspección
  GDS	Nivel de átomo 0.1nm	Normal, Líquido, Vacío	Ambiente o Baja Temperatura	Ninguna	1~2 Nivel de átomo
  TEM	Punto 0.3~0.5nm Enrejado 0.1~0.2nm	alto vacío	Temperatura ambiente	Pequeña	Generalmente <100nm
  SEM	6-10nm	alto vacío	Temperatura ambiente	Pequeña	10 mm @ 10x 1um @10000x
  FIM	Nivel de átomo 0.1nm	Súper Alto Vacío	30~80K	daño	Espesor del átomo

• 
•  
•  

•