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Opto Edu A61.4510 Scanning Tunneling Electron Microscope Constant Height Current Mode

Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode

Productos - Microscopio de exploración
  • Alta luz

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  • Modo del trabajo
    “Modo de Constant Height Mode Constant Current”
  • Curva actual del espectro
    “I-V Curve Current-Distance Curve”
  • Gama XY de la exploración
    5×5um
  • Resolución XY de la exploración
    0.05Nm
  • Gama de la exploración de Z
    1um
  • Resolución de la exploración de Y
    0.01nm
  • Velocidad de la exploración
    0.1Hz~62Hz
  • Ángulo de la exploración
    0~360°
  • Tamaño de muestra
    “Φ≤68mm H≤20mm”
  • Mudanza XY de la etapa
    15×15m m
  • Diseño amortiguador
    Suspensión de la primavera
  • Syestem óptico
    enfoque continuo 1~500x
  • Salida
    USB2.0/3.0
  • Software
    Triunfo XP/7/8/10
  • Lugar de origen
    China
  • Nombre de la marca
    OPTO-EDU
  • Certificación
    CE, Rohs
  • Número de modelo
    A61.4510
  • Cantidad de orden mínima
    1pc
  • Precio
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Detalles de empaquetado
    Embalaje del cartón, para el transporte de la exportación
  • Tiempo de entrega
    5~20 días
  • Condiciones de pago
    L/C, Western Union, T/T, MoneyGram
  • Capacidad de la fuente
    5000 meses del PCS/

Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode

  • Opto Edu A61.4510 Scanning Tunneling Electron Microscope Constant Height Current Mode
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Microscopio de exploración el hacer un túnel

  • Diseño miniaturizado y desmontable, muy fácil llevar y enseñanza de la sala de clase
  • Se integran la cabeza de la detección y la etapa de la exploración de la muestra, la estructura es muy estable, y el antiinterferente es fuerte
  • El método de alimentación de la aguja inteligente de detección automática de cerámica piezoeléctrica a presión motor-controlada protege la punta de prueba y la muestra
  • Sistema lateral de la observación del CCD, observación en tiempo real de la situación de la inserción de la aguja de la punta de prueba y colocación del área de exploración de la muestra de la punta de prueba
  • Efecto a prueba de choques a prueba de choques del método de la suspensión de la primavera, simple y práctico, bueno

Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode 0

Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode 1

◆Diseño miniaturizado y desmontable, muy fácil llevar y enseñanza de la sala de clase

 

◆Se integran la cabeza de la detección y la etapa de la exploración de la muestra, la estructura es muy estable, y el antiinterferente es fuerte

 

◆La muestra de la impulsión de solo-AXIS se acerca automáticamente a la punta de prueba verticalmente, de modo que el de punta de aguja sea perpendicular a la exploración de la muestra

 

◆El método de alimentación de la aguja inteligente de detección automática de cerámica piezoeléctrica a presión motor-controlada protege la punta de prueba y la muestra

 

◆Sistema lateral de la observación del CCD, observación en tiempo real del estado de la inserción de la aguja de la punta de prueba y colocación del área de exploración de la muestra de la punta de prueba

 

◆Efecto a prueba de choques a prueba de choques del método de la suspensión de la primavera, simple y práctico, bueno

 

◆Redactor no lineal integrado del usuario de la corrección del escáner, caracterización del nanómetro y exactitud de la medida mejor el de 98%

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Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode 6

 

A61.4510
Modo del trabajo Constant Height Mode
Constant Current Mode
Curva actual del espectro I-V Curve
Curva de la Actual-distancia
Gama XY de la exploración 5×5um
Resolución XY de la exploración 0.05nm
Gama de la exploración de Z 1um
Resolución de la exploración de Y 0.01nm
Velocidad de la exploración 0.1Hz~62Hz
Ángulo de la exploración 0~360°
Tamaño de muestra Φ≤68mm
H≤20mm
Mudanza XY de la etapa 15×15m m
Diseño amortiguador Suspensión de la primavera
Syestem óptico enfoque continuo 1~500x
Salida USB2.0/3.0
Software Triunfo XP/7/8/10
Microscopio Microscopio óptico Microscopio electrónico Microscopio de exploración de la punta de prueba
Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
Observación 1500x de immersión en aceite Átomos de carbono del diamante de la proyección de imagen Átomos de carbono grafíticos de alto nivel de la proyección de imagen
Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode 7 Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode 8 Microscopio electrónico de exploración opto el hacer un túnel de Edu A61.4510 Constant Height Current Mode 9
Interacción de la Punta de prueba-muestra Señal de la medida Información
Fuerza Fuerza electrostática Forma
Corriente del túnel Actual Forma, conductividad
Fuerza magnética Fase Estructura magnética
Fuerza electrostática Fase distribución de carga
　 Resolución Condiciones de trabajo Temperation de trabajo Damge a muestrear Profundidad de la inspección
SPM Atom Level 0.1nm Normal, líquido, vacío Sitio o Temperation bajo Ninguno 1~2 Atom Level
TEM Punto 0.3~0.5nm
Enrejado 0.1~0.2nm		 Alto vacío Sitio Temperation Pequeño Generalmente <100nm>
SEM 6-10nm Alto vacío Sitio Temperation Pequeño 10m m @10x
1um @10000x
FIM Atom Level 0.1nm Alto vacío estupendo 30~80K Damge Atom Thickness

 

Etiquetas:

Microscopio digital portátil

Microscopio de mano de Digitaces

mano microscopio

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