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Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080

Productos - Microscopio de exploración
  • Resaltar

    microscopio electrónico controlado de exploración del ratón sem

    ,

    microscopio electrónico de exploración de la ampliación 800000x sem

  • Resolución
    1,5 nm a 15 kV (SE); 3nm@20KV(EEB)
  • Aumento
    1x~600000x
  • Arma de electrón
    Pistola de electrones de emisión Schottky
  • Válti­dad de aceleración
    0~30KV
  • Diámetro máximo de la muestra
    175 mm
  • Etapa de muestra
    Etapa motorizada eucéntrica de cinco ejes
  • Lugar de origen
    China
  • Nombre de la marca
    OPTO-EDU
  • Certificación
    CE, Rohs
  • Número de modelo
    A63.7080
  • Documento
    Manual del producto PDF
  • Cantidad de orden mínima
    1 pc
  • Precio
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Detalles de empaquetado
    Embalaje del cartón, para el transporte de la exportación
  • Tiempo de entrega
    5 ~ 20 días
  • Condiciones de pago
    T/T, West Union, PayPal
  • Capacidad de la fuente
    mes de 5000 PC

Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080

  • Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080
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El A63.7080, A63.7081 Función principal del software
Puesta en marcha integrada de alta tensión Filamento automático encendido / apagado Regulación de turnos potenciales
Ajuste del brillo Ajuste eléctrico a la central Brillo automático
Ajuste de contraste Ajuste de la lente Auto enfoque
Ajuste de la ampliación Desgaussage objetivo Eliminación automática del astigmatismo
Modo de exploración de área seleccionado Ajuste eléctrico de la rotación Gestión de los parámetros del microscopio
Modo de escaneo de puntos Ajuste del desplazamiento del haz de electrones Impresión en tiempo real del tamaño del campo de exploración
Modo de exploración de líneas Ajuste de la inclinación del haz de electrones Ajuste de la lente del arma
Escaneo de superficie Ajuste de la velocidad de escaneo Entrada multicanal
Monitoreo de la potencia de alto voltaje Centrar el columpio Medida de la regla


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Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080 14
 
El SEM El A63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 El A63.7080
A63.7080-L		 El A63.7081
Resolución 3nm@30KV (SE)
Las emisiones de gases de efecto invernadero de los Estados miembros se calcularán en función de las emisiones de gases de efecto invernadero.		 1.5nm@30KV ((SE)
Las emisiones de gases de efecto invernadero se calcularán en función de las emisiones de gases de efecto invernadero.		 1.0nm@30KV ((SE)
3.0nm@1KV ((SE)
2.5nm@30KV ((BSE)
Magnificación 1x~450000x,Magnificación verdadera negativa 1x~600000x, Magnificación verdadera negativa 1x~3000000x Magnificación verdadera negativa
Arma de electrones Cartucho de filamento de tungsteno precentrado Pistola de emisiones de campo Schottky Pistola de emisiones de campo Schottky
Válvula de tensión Voltado de aceleración 0.2¿Qué quieres decir?30 kV, ajustable de forma continua, paso de ajuste 100V@0-10Kv, 1KV@10-30Kv
Visión rápida Función de imagen de vista rápida de una tecla No incluido No incluido
Sistema de lentes Lentes con forma cónica electromagnética de tres niveles Lentes con forma cónica electromagnética de varios niveles
Apertura 3 Aperturas del objetivo de molibdeno, ajustable fuera del sistema de vacío, no hay necesidad de desmontar el objetivo para cambiar la apertura
Sistema de vacío 1 Bomba Turbo Molecular
1 Bomba mecánica
Vacío de la sala de muestreo> 2,6 E-3 Pa
Las medidas de seguridad se aplican a las armas de fuego.
Control de vacío totalmente automático
Función de bloqueo al vacío

Modelo opcional: A63.7069-LV
1 Bomba Turbo Molecular
2Las bombas mecánicas
Vacío de la sala de muestreo> 2,6 E-3 Pa
Las medidas de seguridad se aplican a las armas de fuego.
Control de vacío totalmente automático
Función de bloqueo al vacío
Bajo vacíoRango de 10 ~ 270Pa para el cambio rápido en 90 segundos para la EEB ((LV)		 1 conjunto de bombas iónicas
1 Bomba Turbo Molecular
1 Bomba mecánica
Vacío de la sala de muestreo> 6E-4Pa
Las medidas de seguridad se aplicarán a las armas de fuego.
Control de vacío totalmente automático
Función de bloqueo al vacío		 1 Bomba de iones de pulverización
1 Bomba de compuestos iónicos de Getter
1 Bomba Turbo Molecular
1 Bomba mecánica
Vacío de la sala de muestreo> 6E-4Pa
Las medidas de seguridad se aplicarán a las armas de fuego.
Control de vacío totalmente automático
Función de bloqueo al vacío
El detector Sección SE: Detector secundario de electrones de alto vacío (con protección del detector) Sección SE: Detector secundario de electrones de alto vacío (con protección del detector) Sección SE: Detector secundario de electrones de alto vacío (con protección del detector)
BSE: Segmentación de los semiconductores
Detector de dispersión hacia atrás		 No se puede optar No se puede optar
Modelo opcional: A63.7069-LV
Especies de aves de corral: Semiconductor 4 Segmentación
Detector de dispersión hacia atrás		 　 　
CCD: ¿ Qué está pasando?Cámara CCD de infrarrojos CCD: ¿ Qué está pasando?Cámara CCD de infrarrojos CCD: ¿ Qué está pasando?Cámara CCD de infrarrojos
Extender el puerto 2 Extensión de puertos en la sala de muestras para
EDS, BSD, WDS y demás.		 4 Extensión de puertos en el espacio de muestra para
Especies de la familia de las leguminosas		 4 Extensión de puertos en el espacio de muestra para
Especies de la familia de las leguminosas
Fase de la muestra 5 Ejes Etapa, 4Auto.Un +1.Manual de trabajoControl de las emisiones
Distancia de recorrido:
X = 70 mm, Y = 50 mm, Z = 45 mm,
R=360°, T=-5°~+90° ((Manual)
Función de alerta y parada táctil

Modelo opcional:
A63.7069-L5 Ejes Auto Gran escenario		 5 EjesAuto. En el medioEscenario
Distancia de recorrido:
X = 80 mm, Y = 50 mm, Z = 30 mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Función de alerta y parada táctil

Modelo opcional:
A63.7080-L5 EjesAuto. Gran cantidadEscenario		 5 EjesAuto. Gran cantidadEscenario
Distancia de recorrido:
X = 150 mm, Y = 150 mm, Z = 60 mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Función de alerta y parada táctil
Especimen máximo Diámetro 175 mm, altura 35 mm Diámetro 175 mm, altura 20 mm Diámetro 340 mm, altura 50 mm
Sistema de imágenes Imagen fija real con resolución máxima de 4096x4096 píxeles.
Formatos de archivo de imagen: BMP ((Default), GIF, JPG, PNG, TIF		 Imagen fija real con resolución máxima de 16384x16384 píxeles.
Formatos de archivo de imagen: TIF (por defecto), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Grabación automática digital. Video AVI		 Imagen fija real con resolución máxima de 16384x16384 píxeles.
Formatos de archivo de imagen: TIF (por defecto), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Grabación automática digital. Video AVI
Informática y software PC Work Station Win 10 System, con software de análisis de imagen profesional para controlar completamente toda la operación del microscopio SEM, especificación del ordenador no inferior a Inter I5 3.2GHz, memoria 4G,Monitoreo LCD IPS de 24 pulgadas, 500G Disco duro, ratón, teclado
Muestra de fotos El nivel de imagen es rico y meticuloso, mostrando aumento en tiempo real, regla, voltaje, curva gris
Dimensión
& Peso		 Cuerpo del microscopio 800x800x1850mm
Mesa de trabajo 1340x850x740 mm
Peso total 400 kg		 Cuerpo del microscopio 800x800x1480mm
Mesa de trabajo 1340x850x740 mm
Peso total 450 kg		 Cuerpo del microscopio 1000x1000x1730 mm
Mesa de trabajo 1330x850x740 mm
Peso total 550 kg
Accesorios opcionales
Accesorios opcionales Es el A50.7002Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía EDS
Es el A50.7011Revestimiento de pulverización iónica		 Es el A50.7001Detector de electrones de dispersión de espalda de EEB
Es el A50.7002Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía EDS
Es el A50.7011Revestimiento de pulverización iónica
Es el A50.7030Panel de control de motor		 Es el A50.7001Detector de electrones de dispersión de espalda de EEB
Es el A50.7002Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía EDS
Es el A50.7011Revestimiento de pulverización iónica
Es el A50.7030Panel de control de motor

Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080 15

Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080 16
Es el A50.7001 Detector de EEB Detector de retrodispersión de cuatro segmentos de semiconductores;
Disponible en ingredientes A+B, información morfológica A-B;
Observación de muestras disponibles sin pulverizar oro;
Disponible en la observación de impurezas y distribución desde el mapa de escala de grises directamente.
Es el A50.7002 SED (detector de rayos X) Fenómeno de nitruro de silicio (Si3N4) para optimizar la transmisión de rayos X de baja energía para el análisis de elementos ligeros;
Excelente resolución y su avanzada electrónica de bajo ruido proporcionan un rendimiento de transmisión excepcional;
La pequeña huella ofrece flexibilidad para garantizar la geometría ideal y las condiciones de recolección de AATA;
Los detectores contienen un chip de 30 mm2.
Es el A50.7003 EBSD (difracción de haz de electrones dispersa hacia atrás) El usuario podría analizar la orientación cristalina, la fase cristalina y la micro textura de los materiales y el rendimiento de los materiales relacionados, etc.
Optimización automática de la configuración de la cámara EBSD
durante la recopilación de datos, hacer análisis interactivo en tiempo real para obtener la máxima información
todos los datos fueron marcados con una etiqueta de tiempo, que se puede ver en cualquier momento
alta resolución 1392 x 1040 x 12
Velocidad de escaneo e índice: 198 puntos/seg, con Ni como estándar, bajo la condición de 2~5nA, puede garantizar la tasa de índice ≥99%;
Funciona bien en condiciones de corriente de luz baja y voltaje bajo de 5kV a 100pA
precisión de medición de orientación: mejor de 0,1 grados
Usando el sistema de índices triplex: no es necesario depender de la definición de banda única, fácil indexación de la mala calidad del patrón
base de datos dedicada: base de datos especial de EBSD obtenida por difracción de electrones: >400 estructura de fase
Capacidad de indexación: puede indexar automáticamente todos los materiales cristalinos de 7 sistemas cristalinos.
Las opciones avanzadas incluyen el cálculo de la rigidez elástica (Elastic Stiffness), factor Taylor (Taylor), factor Schmidt (Schmid) y así sucesivamente.
Es el A50.7010 Máquina de recubrimiento Conchas de vidrio de protección: ¥250 mm; 340 mm de altura;
Cámara de procesamiento de vidrio:
¥88mm; 140mm Alto, ¥88mm; 57mm Alto;
El tamaño de la etapa de la muestra: ¥40 mm (máximo);
Sistema de vacío: bomba de moléculas y bomba mecánica;
Detección de vacío: Pirani Gage;
Las características de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de los componentes de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de los componentes de las máquinas de ensayo y de los equipos de ensayo de las máquinas de ensayo.
Protección contra el vacío:20 Pa con válvula de inflación a microescala;
Movimiento de la muestra: Rotación del plano, precesión de inclinación.
Es el A50.7011 Revestimiento de pulverización iónica Cámara de procesamiento de vidrio: 100 mm; 130 mm de altura;
El tamaño de la etapa de la muestra: 40 mm ((Contiene 6 tazas de muestra) ;
El tamaño de la meta de oro: ¥58mm*0.12mm (grandote);
Detección de vacío: Pirani Gage;
Protección contra el vacío:20 Pa con válvula de inflación a microescala;
Gas medio:Argón o aire con entrada de aire especial de gas de argón y regulación de gas a escala microscópica.
Es el A50.7012 Revestimiento de pulverización de iones de argón La muestra fue recubierta con carbono y oro bajo vacío.
Cuadro de muestras giratorio, revestimiento uniforme, tamaño de partícula de aproximadamente 3-5 nm;
No se selecciona el material objetivo, no se dañan las muestras;
Las funciones de la limpieza de iones y el adelgazamiento de iones pueden ser realizadas.
Es el A50.7013 Secador de puntos críticos Diámetro interno: 82 mm, longitud interior: 82 mm;
Las condiciones de los equipos de ensayo deberán ser las siguientes:
Rango de temperatura: 0°-50° C (32°-122° F)
Es el A50.7014 Litografía de haz de electrones Basado en el microscopio electrónico de escaneo, se desarrolló un nuevo sistema de nanoexposición;
La modificación ha mantenido todas las funciones de Sem para hacer una imagen de ancho de línea a nanoescala;
El sistema Ebl modificado se aplica ampliamente en dispositivos microelectrónicos, dispositivos optoelectrónicos, dispositivos cuánticos, investigación y desarrollo de sistemas microelectrónicos.

Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080 17
El A63.7080, A63.7081 Equipo de consumibles estándar
1 Filamento de emisión de campo Instalado en microscopio 1 Pc
2 Copo de muestra Diámetro 13 mm 5 piezas
3 Copo de muestra Dia.32 mm 5 piezas
4 Cintas conductoras de doble cara de carbono 6 mm 1 Embalaje
5 Grasa de vacío 　 10 piezas
6 Tejido sin pelo 　 1 tubo
7 Pasta para pulir 　 1 Pc
8 Cuadro de muestra 　 2 bolsas
9 Envases de algodón 　 1 Pc
10 Filtro de niebla de aceite 　 1 Pc
El A63.7080, A63.7081 Equipo de herramientas y piezas estándar
1 Apagón de hexágono interno 1.5 mm ~ 10 mm 1 conjunto
2 Las pinzas Duración 100-120 mm 1 Pc
3 Torcedor con ranura 2*50 mm, 2*125 mm 2 piezas
4 Torcedora cruzada 2*125 mmm 1 Pc
5 Tubo de ventilación limpio Diámetro 10/6,5 mm (Diámetro exterior/Diámetro interior) 5 metros
6 Válvula de reducción de presión de ventilación Presión de salida 0-0,6MPa 1 Pc
7 Fuente de alimentación de horneado interno 0-3A CC 2 piezas
8 Fuente de alimentación UPS 10 kVA 2 piezas

Microscopio electrónico de escaneo controlado con ratón Sem 1x~600000x Magnificación A63.7080 18
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Microscopio digital portátil

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