Microscopio atómico de exploración plano de la fuerza

• El diseño de la cabeza de exploración del pórtico, la base de mármol, la etapa de la adsorción del vacío, el tamaño de muestra y el peso son básicamente ilimitados
• A62.4510 + escáner independiente de tres ejes a circuito cerrado del cambio de la presión, que puede explorar con la alta precisión en una amplia gama
• Método de alimentación de la aguja inteligente con la detección automática de cerámica piezoeléctrica motor-controlada para proteger puntas de prueba y muestras
• Colocación óptica automática, ninguna necesidad para ajustar el foco, observación en tiempo real y colocación de área de exploración de la muestra de la punta de prueba
• Equipado del escudo cerrado del metal, tabla amortiguador neumática, capacidad antiinterferente fuerte

          ◆El primer microscopio atómico comercial de la fuerza en China para realizar la exploración móvil combinada de la punta de prueba y de la muestra;

          ◆El primer en China para utilizar una tabla de exploración piezoeléctrica del cambio del circuito cerrado independiente de tres ejes para alcanzar la exploración de alta precisión en grande;

          ◆La exploración independiente de tres ejes, XYZ no se afecta, muy conveniente para la detección tridimensional del material y de la topografía;

          ◆Control eléctrico de la tabla móvil de la muestra y de la tabla de elevación, que se puede programar con la posición de múltiples puntos realizar la detección automática rápida;

          ◆Diseño de la cabeza de exploración del pórtico, base de mármol, adsorción del vacío y etapa magnética de la adsorción;

          ◆El motor control automático el método de alimentación de la aguja inteligente de la detección automática de cerámica piezoeléctrica para proteger la punta de prueba y la muestra;

          ◆Colocación óptica auxiliar del microscopio de la alta ampliación, observación en tiempo real y colocación de la punta de prueba y del área de exploración de la muestra;

          ◆La etapa de exploración piezoeléctrica a circuito cerrado no requiere la corrección no lineal, y la exactitud de la caracterización y de la medida del nanómetro es mejor de 99,5%.

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• 	A62.4510	A62.4511
  Modo del trabajo	Modo de contacto Modo que golpea ligeramente [Opcional] Modo de la fricción Modo de la fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo que golpea ligeramente [Opcional] Modo de la fricción Modo de la fase Modo magnético Modo electrostático
  Curva actual del espectro	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve
  Modo de exploración XY	Exploración conducida punta de prueba, Escáner piezoeléctrico del tubo	Exploración conducida muestra, etapa piezoeléctrica de la exploración del cambio del lazo cerrado
  Gama XY de la exploración	70×70um	Lazo cerrado 100×100um
  Resolución XY de la exploración	0.2nm	Lazo cerrado 0.5nm
  Modo de exploración de Z		Exploración conducida punta de prueba
  Gama de la exploración de Z	5um	5um
  Resolución de la exploración de Z	0.05nm	0.05nm
  Velocidad de la exploración	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Ángulo de la exploración	0~360°	0~360°
  Peso de la muestra	≤15Kg	≤0.5Kg
  Tamaño de la etapa	Dia.100mm [Opcional] Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm [Opcional] Dia.200mm Dia.300mm
  Mudanza XY de la etapa	100x100m m, resolución 1um [Opcional] 200x200m m 300x300m m	100x100m m, resolución 1um [Opcional] 200x200m m 300x300m m
  Mudanza de la etapa Z	15m m, resolución 10nm [Opcional] 20m m 25m m	15m m, resolución 10nm [Opcional] 20m m 25m m
  Diseño amortiguador	Suspensión de la primavera [Opcional] Amortiguador de choque activo	Suspensión de la primavera [Opcional] Amortiguador de choque activo
  Sistema óptico	5x objetivo los 5.0M Digital Camera [Opcional] 10x objetivo 20x objetivo	5x objetivo los 5.0M Digital Camera [Opcional] 10x objetivo 20x objetivo
  Salida	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Triunfo XP/7/8/10	Triunfo XP/7/8/10
  Cuerpo principal	Cabeza de exploración del pórtico, base de mármol	Cabeza de exploración del pórtico, base de mármol

• Microscopio	Microscopio óptico	Microscopio electrónico	Microscopio de exploración de la punta de prueba
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observación	1500x de immersión en aceite	Átomos de carbono del diamante de la proyección de imagen	Átomos de carbono grafíticos de alto nivel de la proyección de imagen

• Interacción de la Punta de prueba-muestra	Señal de la medida	Información
  Fuerza	Fuerza electrostática	Forma
  Corriente del túnel	Actual	Forma, conductividad
  Fuerza magnética	Fase	Estructura magnética
  Fuerza electrostática	Fase	distribución de carga

• 	Resolución	Condiciones de trabajo	Temperation de trabajo	Damge a muestrear	Profundidad de la inspección
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, líquido, vacío	Sitio o Temperation bajo	Ninguno	1~2 Atom Level
  TEM	Punto 0.3~0.5nm Enrejado 0.1~0.2nm	Alto vacío	Sitio Temperation	Pequeño	Generalmente <100nm>
  SEM	6-10nm	Alto vacío	Sitio Temperation	Pequeño	10m m @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Alto vacío estupendo	30~80K	Damge	Atom Thickness

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